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      반도체 Wafer용 Edge Grinding Machine의구조 안정화를 위한 설계 개선 = Design Alterations of a Semiconductor Wafer Edge Grinder for the Improved Stability

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      https://www.riss.kr/link?id=A104658926

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      It is generally accepted that the surface quality of wafer edge is mostly damaged by the vibrations of the edge grinding machine. The surface quality of wafer edge is supposed to be the most dominant factor of the cracks, scratches, burrs and chips on...

      It is generally accepted that the surface quality of wafer edge is mostly damaged by the vibrations of the edge grinding machine. The surface quality of wafer edge is supposed to be the most dominant factor of the cracks, scratches, burrs and chips on the edge surfaces, which are the main defects of the wafers. In this study, the structure of a wafer edge grinder has been investigated through the frequency response experiment and the computer simulation to find ways to suppress the vibrations from the structure. The main reasons of the structural vibrations were analyzed. And further the design alterations were deduced from the results of the experiment and the simulation, and applied to the machine to check the effects of those alterations and to eventually improve the structural stability. The result shows that the machine can have much improved stability with relatively simple design changes.

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      참고문헌 (Reference)

      1 Cho H. J., 23 (23): 697-, 1999

      2 Ro S. H., 24 (24): 1978-, 2000

      3 Raialingham C., "Vibration of Rectangular Plates using Plate Characteristic Functions as Shape Functions in the Rayleigh-Ritz Method" 193 (193): 497-509, 1996

      4 Kenneth G. McConnell, "Vibration Testing" John Wiley & sons, Inc 1995

      5 D. J. Ewins, "Modal Testing"

      6 Fertis D. G., "Mechanical and Structural Vibration" John Wiley &sons, Inc 197-241, 1995

      7 Ro S. H., "Mechanical Vibrations with Applications"

      8 Havosen, W. G., "Journal of Sound and Vibration" 8 : 1977

      9 R. B. Randall, "Frequency Analysis"

      1 Cho H. J., 23 (23): 697-, 1999

      2 Ro S. H., 24 (24): 1978-, 2000

      3 Raialingham C., "Vibration of Rectangular Plates using Plate Characteristic Functions as Shape Functions in the Rayleigh-Ritz Method" 193 (193): 497-509, 1996

      4 Kenneth G. McConnell, "Vibration Testing" John Wiley & sons, Inc 1995

      5 D. J. Ewins, "Modal Testing"

      6 Fertis D. G., "Mechanical and Structural Vibration" John Wiley &sons, Inc 197-241, 1995

      7 Ro S. H., "Mechanical Vibrations with Applications"

      8 Havosen, W. G., "Journal of Sound and Vibration" 8 : 1977

      9 R. B. Randall, "Frequency Analysis"

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      2019-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2016-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2012-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2010-03-25 학회명변경 한글명 : 한국반도체및디스플레이장비학회 -> 한국반도체디스플레이기술학회
      영문명 : The Korean Society of Semiconductor & Display Equipment Technology -> The Korean Society of Semiconductor & Display Technology
      KCI등재
      2010-03-25 학술지명변경 한글명 : 반도체및디스플레이장비학회지 -> 반도체디스플레이기술학회지
      외국어명 : Journal of the Semiconductor and Display Equipment Technology -> Journal of the Semiconductor & Display Technology
      KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2006-01-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.29 0.29 0.26
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.21 0.18 0.217 0.02
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