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SIMS depth profiling of semiconductor interfaces: Experimental study of depth resolution function
Kudriavtsev, Y.; Gallardo, S.; Koudriavtseva, O.; Escobosa, A.; Sanchez-R, V. M.; Avendao, M.; Asomoza, R.; Lopez-Lopez, M. John Wiley & Sons, Ltd 2011 p.1277-1281
Preparation and adsorption properties of phospho-L-glutamic acid on hydroxyapatite
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An SKP and EIS investigation of amine adsorption on zinc oxide surfaces
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CO and methanol adsorption on (2 1)Pt(110) and ion-eroded Pt(111) model catalysts
Matolnov, I.; Johnek, V.; Mysliveek, J.; Prince, K. C.; Skla, T.; koda, M.; Tsud, N.; Vorokhta, M.; Matoln, V. John Wiley & Sons, Ltd 2011 p.1325-1331
Formation and tribological properties of two-component ultrathin ionic liquid films on Si
Pu, J.; Liu, X.; Wang, L.; Xue, Q. John Wiley & Sons, Ltd 2011 p.1332-1340
Asakawa, D.; Hiraoka, K. John Wiley & Sons, Ltd 2011 p.1341-1345
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