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0.5 μm GaN RF power bar technology space evaluation
Van de Casteele, J.; Stuhldreier, H.; Bouw, D.; Gourdon, C.; Raoult, M.; Durand, E.; Van Den Berghe, S.; Hollmer, M.; Grunwald, M.; Lambert, B.; Blanck, H.; Barnes, A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
Accelerated aging test for gate-oxide degradation in SiC MOSFETs for condition monitoring
Hayashi, Shin-Ichiro; Wada, Keiji Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
Yan, Gangping; Xu, Gaobo; Bi, Jinshun; Tian, Guoliang; Xu, Qiuxia; Yin, Huaxiang; Li, Yongliang Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
AC stress reliability study on a novel vertical MOS transistor for non-volatile memory technology
Locati, J.; Della Marca, V.; Rivero, C.; Fornara, P.; Regnier, A.; Niel, S.; Coulié, K. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
Yang, Qingqing; Ma, Mingyao; Yang, Shuying; Zhang, Xing Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
A 3-D thermal network model for the temperature monitoring of thermal grease as interface material
Zhang, Xiaotong; Wang, Shihang; Xin, Lei; Wu, Kangning; Yu, Xiaoling; Wang, Xiaolin; Li, Jianying Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
Ageing of glass passivated TRIAC devices under thermal and electrical stress
Buvat, Y.; Bouyssou, E.; Morillon, B.; Gautier, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
Analog and mixed-signal circuits simulation for product level EMMI analysis
Melis, Tommaso; Simeu, Emmanuel; Auvray, Etienne; Armagnat, Paul Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
Analysis of counterfeit electronics
Mura, G.; Murru, R.; Martines, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
Analysis of cyclic spontaneous switchings in GaN & SiC cascodes by snappy turn-off currents
Gunaydin, Yasin; Jahdi, Saeed; Alatise, Olayiwola; Ortiz-Gonzalez, Jose Angel; Aithal, Avinash; Yuan, Xibo; Mellor, Phil Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020
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