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46th International Field Emission Symposium
Danoix, F.; Seidman, D. N. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.xi
Density functional analysis of field emission from metals
Gohda, Y.; Nakamura, Y.; Watanabe, K.; Watanabe, S. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.1 - 6
Measurement of field emission current variations caused by an amplitude modulated laser
Brugat, M.; Mousa, M. S.; Sheshin, E. P.; Hagmann, M. J. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.7 - 15
Chen, Y.; Deng, S. Z.; Xu, N. S.; Chen, J.; Ma, X. C.; Wang, E. G. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.16 - 19
A new approach to preparing tips for atom probe field ion microscopy from powder materials
Wu, F.; Bellon, P.; Lau, M. L.; Lavernia, E. J.; Lusby, T. A.; Melmed, A. J. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.20 - 23
Hellman, O. C.; Seidman, D. N. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.24 - 28
Application software for data analysis for three-dimensional atom probe microscopy
Hellman, O.; Vandenbroucke, J.; Blatz du Rivage, J.; Seidman, D. N. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.29 - 33
Maruyama, N.; Smith, G. D. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.34 - 39
Atom probe study of phase transformations in a Ti-48 at.% Al alloy
Lefebvre, W.; Menand, A.; Loiseau, A.; Blavette, D. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.40 - 46
Fischer, R.; Frommeyer, G.; Schneider, A. ELSEVIER SEQUOIA SA 2002 p.47 - 53
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