http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
Effect of band warping and wafer orientation on NMOS mobility under arbitrary applied stress
Kotlyar, R.; Weber, C.; Shifren, L.; Cea, S.; Giles, M. D.; Stettler, M. Springer Science + Business Media 2008 p.95-98
Pham, A. T.; Meinerzhagen, B.; Jungemann, C. Springer Science + Business Media 2008 p.99-102
Anisotropic dopant diffusion in Si under stress using both continuum and atomistic methods
Martin-Bragado, I.; Avci, I.; El Sayed, K.; Koltyzhenkov, V.; Lyumkis, E.; Johnson, M. D. Springer Science + Business Media 2008 p.103-106
Surface roughness induced device variability: 3D ab initio Monte Carlo simulation study
Alexander, C. L.; Asenov, A. Springer Science + Business Media 2008 p.107-110
Design of random doping fluctuation resistant structures of semiconductor devices
Oniciuc, L.; Haddad, N.; Andrei, P. Springer Science + Business Media 2008 p.111-114
Capacitance fluctuations in bulk MOSFETs due to random discrete dopants
Brown, A. R.; Asenov, A. Springer Science + Business Media 2008 p.115-118
Discontinuous Galerkin solver for Boltzmann-Poisson transients
Cheng, Y.; Gamba, I. M.; Majorana, A.; Shu, C. W. Springer Science + Business Media 2008 p.119-123
Capacitance variability of short range interconnects
Drysdale, T. D.; Brown, A. R.; Roy, G.; Roy, S.; Asenov, A. Springer Science + Business Media 2008 p.124-127
Lacerda de Orio, R.; Ceric, H.; Selberherr, S. Springer Science + Business Media 2008 p.128-131
Numerical simulation on novel FinFETs: asymmetric poly-silicon gate FinFETs and TiN gate FinFETs
Kim, H. G.; Won, T. Springer Science + Business Media 2008 p.132-137
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.