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Schwank, J. R.; Paillet, P.; Felix, J. A.; Autran, J. L. IEEE; 1999 2006 p.1752
RADECS 2005 Conference Overview
Dusseau, L.; Saigne, F.; Gasiot, J. IEEE; 1999 2006 p.1753-1754
Girard, S.; Brichard, B.; Baggio, J.; Berghmans, F.; Decreton, M. IEEE; 1999 2006 p.1756-1763
Measurements of Random Telegraph Signal in CCDs Irradiated With Protons and Neutrons
Nuns, T.; Quadri, G.; David, J.-P.; Gilard, O.; Boudou, N. IEEE; 1999 2006 p.1764-1771
Effects of Total Dose Irradiation on Single-Event Upset Hardness
Schwank, J. R.; Shaneyfelt, M. R.; Felix, J. A.; Dodd, P. E.; Baggio, J.; Ferlet-Cavrois, V.; Paillet, P.; Hash, G. L.; Flores, R. S.; Massengill, L. W. IEEE; 1999 2006 p.1772-1778
Testing and Qualifying Linear Integrated Circuits for Radiation Degradation in Space
Johnston, A. H.; Rax, B. G. IEEE; 1999 2006 p.1779-1786
Memories Response to MBU and Semi-Empirical Approach for SEE Rate Calculation
Petit, S.; David, J. P.; Falguere, D.; Duzellier, S.; Inguimbert, C.; Nuns, T.; Ecoffet, R. IEEE; 1999 2006 p.1787-1793
Simulating Nuclear Events in a TCAD Model of a High-Density SEU Hardened SRAM Technology
Ball, D. R.; Warren, K. M.; Weller, R. A.; Reed, R. A.; Kobayashi, A.; Pellish, J. A.; Mendenhall, M. H.; Howe, C. L.; Massengill, L. W.; Schrimpf, R. D. IEEE; 1999 2006 p.1794-1798
Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, A.; Pouget, V.; Darracq, F.; Lewis, D.; Fouillat, P.; Perdu, P. IEEE; 1999 2006 p.1799-1805
Measurement of Single-Event Effects on a Large Number of Commercial DRAMs
Sasada, T.; Ichikawa, S.; Kanai, T. IEEE; 1999 2006 p.1806-1812
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