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이 학술지의 논문 검색
Towards Reference Samples for X-Ray Residual Stress Analysis
Botzon, R.;Francois, M. Trans Tech 2000 p.12-16
Determination of Alignment Errors in Classical XRD Residual Stress Methods
Vermeulen, A. C.;Houtman, E. Trans Tech 2000 p.17-22
Observations on two Commonly Used Profile Shape Functions
Courant, B.;Bourniquel, B.;Francois, M.;Bessiere, M. Trans Tech 2000 p.23-28
Construction of the New Material Science Neutron Diffractometer STRESS-SPEC
Mayer, H. M.;Pyzalla, A.;Reimers, W. Trans Tech 2000 p.29-33
Pyzalla, A.;Reimers, W.;Liss, K.-D. Trans Tech 2000 p.34-41
Stress in Thin Layers; Grain Interaction, Elastic Constants and Diffraction Response
Kamminga, J.-D.;Leoni, M.;Welzel, U.;Lamparter, P.;Mittemeijer, E. J. Trans Tech 2000 p.42-47
Determination of Zircaloy -4 Radiocrystallographic Elastic Constants from Room Temperature to 300^oC
Gosmain, L.;Valot, C.;Lallemant, M.;Ciosmak, D.;Sicardy, O. Trans Tech 2000 p.48-53
Intergranular Strains in Textured Steel
Daymond, M. R.;Tome, C. N.;Bourke, M. A. M. Trans Tech 2000 p.54-59
Eberl, F.;Wroblewski, T.;Cailletaud, G.;Lebrun, J. L. Trans Tech 2000 p.60-65
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
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