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Fabrication of silicon webs in the decananometre range
Trellenkamp, S.; Moers, J.; van der Hart, A.; Kordos, P.; Luth, H. SPRINGER-VERLAG 2004 p.627-628
Interaction of electrons and molecules with a single trapped nanoparticle
Schlemmer, S.; Wellert, S.; Windisch, F.; Grimm, M.; Barth, S.; Gerlich, D. SPRINGER-VERLAG 2004 p.629-636
In situ oxygen plasma cleaning of a PECVD source for hard disk overcoats
Ochs, D.; Cord, B. SPRINGER-VERLAG 2004 p.637-640
Kukreja, L. M.; Rohlfing, A.; Misra, P.; Hillenkamp, F.; Dreisewerd, K. SPRINGER-VERLAG 2004 p.641-644
Realisation and metrological characterisation of thickness standards below 100 nm
Thomsen-Schmidt, P.; Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stumpel, J.; Busch, I.; Schadlich, S.; Schindler, A. SPRINGER-VERLAG 2004 p.645-650
Ion beam assisted smoothing of optical surfaces
Frost, F.; Fechner, R.; Flamm, D.; Ziberi, B.; Frank, W.; Schindler, A. SPRINGER-VERLAG 2004 p.651-654
Detection in the ppm range and high-resolution depth profiling with the new SNMS instrument INA-X
Jorzick, J.; Losch, J.; Kopnarski, M.; Oechsner, H. SPRINGER-VERLAG 2004 p.655-658
Investigations of silicon nitride and boron carbide monolayers and Si~3N~4/B~4C multilayers
Lattemann, M.; Ulrich, S.; Leiste, H.; Nold, E.; Holleck, H. SPRINGER-VERLAG 2004 p.659-662
Investigations of the long-term measuring stability of cold-cathode gauges
Wilfert, S.; Schindler, N. SPRINGER-VERLAG 2004 p.663-666
Manufacturing and qualification of UHV chambers
Pink, F.; Schmidt, G. SPRINGER-VERLAG 2004 p.667-670
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