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14th International Conference on Particle Induced X-ray Emission (“PIXE 2015”)
Przybyłowicz, W. J.; Pineda-Vargas, C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1-3
K, L, and M shell datasets for PIXE spectrum fitting and analysis
Cohen, D. D.; Crawford, J.; Siegele, R. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.7-18
L X-ray emission induced by heavy ions
Pajek, M.; Banaś, D.; Braziewicz, J.; Majewska, U.; Semaniak, J.; Fijał-Kirejczyk, I.; Jaskóła, M.; Czarnacki, W.; Korman, A.; Kretschmer, W. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.19-23
Dib, A.; Ammi, H.; Guesmia, A.; Msimanga, M.; Mammeri, S.; Hedibel, M.; Guedioura, B.; Pineda-Vargas, C. A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.24-27
Proton induced L1, L2, L3-sub-shell X-ray production cross sections of Hf and Au
Bertol, A. P.; Hinrichs, R.; Vasconcellos, M. A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.28-32
K-shell X-ray production cross sections of Ni induced by protons, alpha-particles, and He+
Bertol, A. P.; Hinrichs, R.; Vasconcellos, M. A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.33-36
Orlić, I.; Mekterović, D.; Mekterović, I.; Ivošević, T. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.37-41
Improved Dynamic Analysis method for quantitative PIXE and SXRF element imaging of complex materials
Ryan, C. G.; Laird, J. S.; Fisher, L. A.; Kirkham, R.; Moorhead, G. F. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.42-47
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