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이 학술지의 논문 검색
Pulsed electron beam annealing of Be-implanted InSb
H.W. Alberts; R. Cilliers Elsevier BV 1988 p.229-233
A DLTS study of defects formed in silicon during ion beam mixing
F.D. Auret; J.B. Malherbe; M. Nel; G. Myburg Elsevier BV 1988 p.234-237
Characteristics of ion beam mixed; alloyed AuGe/Ni ohmic contacts to n-GaAs
W.O. Barnard; H.J. Strydom; M.M. Kruger; C. Schildhauer; B.M. Lacquet Elsevier BV 1988 p.237-243
Radiation damage in nickel; iron after ion implantation
E. Friedland; H.W. Alberts Elsevier BV 1988 p.244-246
Modification of metal Schottky contacts on silicon by ion implantation
J.B. Malherbe; E. Friedland; G. Myburg; B.A. Carr; A. Pavlovska Elsevier BV 1988 p.247-252
H.J. Morland; C. Olivier; B.S. De Wet; M. Peisach Elsevier BV 1988 p.253-256
SIMS analysis for detection of contaminants in thin film photovoltaics
G.C. Morris; L.E. Lyons; R.K. Tandon; B.J. Wood Elsevier BV 1988 p.257-262
Correction of proton ranges in unknown samples by spiking
C. Olivier; H.J Morland; M. Peisach Elsevier BV 1988 p.263-267
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