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Spectroscopic Ellipsometer를 이용한 a-Si:H/c-Si 이종접합 태양전지 박막 분석
지광선(Ji, Kwang-Sun),어영주(Eo, Young-Ju),김범성(Kim, Bum-Sung),이헌민(Lee, Heon-Min),이돈희(Lee, Don-Hee) 한국신재생에너지학회 2008 한국신재생에너지학회 학술대회논문집 Vol.2008 No.05
고효율 a-Si:H/c-Si 이종접합 태양전지를 얻기 위해서는 우수한 c-Si wafer 위에 고품질의 비정질 실리콘박막을 통한 heterointerface를 형성하는 것이 매우 중요하다. 이를 달성하기 위해서는 공정중에 오염되기 쉬운 Si wafer 표면 상태를 정확히 검사하고 잘 관리하여야 한다. 본 연구에서는 세정 및 표면산화에 따른 Si wafer 상태를 Spectroscopic Ellipsometry 및 u-PCD를 이용하여 분석하였으며, <varepsilon2> @4.25eV 값이 Si wafer 상태를 잘 나타내고 있음을 확인하였고 세정 최적화 할 경우 그 값이 43.02에 도달하였다. 또한 RF-PECVD로 증착된a-Si:H 박막을 EMA 모델링을 통해 분석한 결과 낮은 결정성과 높은 밀도를 가지는 a-Si:H를 얻을 수 있었으며, 이를 이종접합 태양전지에 적용한 결과 Flat wafer상에서 10.88%, textured wafer 적용하여 13.23%의 변환효율을 얻었다. 결론적으로 Spectroscopic Ellipsometry가 매우 얇고 고품질의 다층 박막이 필요한 이종접합 태양전지 분석에 있어 매우 유용한 방법임이 확인되었다.
Spectroscopic Ellipsometer를 이용한 a-Si:H/c-Si 이종접합 태양전지 박막 분석
지광선(Ji, Kwang-Sun),어영주(Eo, Young-Ju),김범성(Kim, Bum-Sung),이헌민(Lee, Heon-Min),이돈희(Lee, Don-Hee) 한국신재생에너지학회 2008 신재생에너지 Vol.4 No.2
It is very important that constitution of good hetero-junction interface with a high quality amorphous silicon thin films on very cleaned c-Si wafer for making high efficiency hetero-junction solar cells. For achieving the high efficiency solar cells, the inspection and management of c-Si wafer surface conditions are essential subjects. In this experiment, we analyzed the c-Si wafer surface very sensitively using Spectroscopic Ellipsometer for <{varepsilon}2> and u-PCD for effective carrier life time, so we accomplished <{varepsilon}2> value 43.02 at 4.25eV by optimizing the cleaning process which is representative of c-Si wafer surface conditions very well. We carried out that the deposition of high quality hydrogenated silicon amorphous thin films by RF-PECVD systems having high density and low crystallinity which are results of effective medium approximation modeling and fitting using spectroscopic ellipsometer. We reached the cell efficiency 12.67% and 14.30% on flat and textured CZ c-Si wafer each under AM1.5G irradiation, adopting the optimized cleaning and deposition conditions that we made. As a result, we confirmed that spectroscopic ellipsometry is very useful analyzing methode for hetero-junction solar cells which need to very thin and high quality multi layer structure.
Cu<SUB>2</SUB>ZnSnSe<SUB>4</SUB> 박막 태양전지 내 전류 차단층이 미치는 영향에 대한 전기적 특성 분석
문지현(Jihyun Moon),최혜림(Hye Rim Choi),곽지혜(Jihye Gwak),김기환(Kihwan Kim),윤재호(Jae Ho Yun),조아라(Ara Cho),어영주(Young Ju Eo),조준식(Jun-Sik Cho),안세진(SeJin Ahn),박주형(Joo Hyung Park),유진수(Jin Su Yoo),남다현(Dahyun Nam),정현식 한국신재생에너지학회 2017 한국신재생에너지학회 학술대회논문집 Vol.2017 No.9