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Statistical Analysis of the Charge Collected in SOI and Bulk Devices Under Heavy lon and Proton Irradiation-Implications for Digital SETs
Ferlet-Cavrois, V., Paillet, P., Gaillardin, M., L IEEE; 1999 2006 IEEE transactions on nuclear science Vol.53 No.6
High-Frequency Performances of a Partially Depleted 0.18-� SOI/CMOS Tecnology at Low Supply Voltage - Influence of Parasitic Elements
Ferlet-Cavrois, V. Institute of Electrical and Electronics Engineers 1998 IEEE electron device letters Vol.19 No.7
Analysis of the Transient Response of High Performance 50-nm Partially Depleted SOI Transistors Using a Laser Probing Technique
Ferlet-Cavrois, V., Paillet, P., McMorrow, D., Mel IEEE; 1999 2006 IEEE transactions on nuclear science Vol.53 No.4
Direct Measurement of Transient Pulses Induced by Laser and Heavy Ion Irradiation in Deca-Nanometer Devices
Ferlet-Cavrois, V., Paillet, P., McMorrow, D., Tor IEEE; 1999 2005 IEEE transactions on nuclear science Vol.52 No.6
Charge Collection by Capacitive Influence Through Isolation Oxides
Ferlet-Cavrois, V.,Paillet, P.,Schwank, J. R.,Vizk IEEE 2003 IEEE transactions on nuclear science Vol.50 No.6
New Insights Into Single Event Transient Propagation in Chains of Inverters-Evidence for Propagation-Induced Pulse Broadening
Ferlet-Cavrois, V., Paillet, P., McMorrow, D., Fel IEEE; 1999 2007 IEEE transactions on nuclear science Vol.54 No.6
Ferlet-Cavrois, V., Paillet, P., Schwank, J. R., V IEEE; 1999 2003 IEEE transactions on nuclear science Vol.50 No.1
Worst-Case Bias During Total Dose Irradiation of SOI Transisitors
Ferlet-Cavrois, V. IEEE; 1999 2000 IEEE transactions on nuclear science Vol.47 No.6/3
Total Dose Behavior of Partially Depleted SOI Dynamic Threshold Voltage MOS (DTMOS) for Very Low Supply Voltage Applications (0.6 - 1V)
Ferlet-Cavrois, V. IEEE; 1999 2000 IEEE transactions on nuclear science Vol.47 No.3/1
Total Dose Induced Latch in Short Channel NMOS/SOI Transistors
Ferlet-Cavrois, V. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 1998 IEEE transactions on nuclear science Vol.45 No.6/1
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