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SBS냉장고 나선형 얼음 공급장치의 고장모드에 관한 가속시험
유동수(Dong-su Ryu),임재훈(Jae-hoon Lim),우성우(Seong-woo Woo),이덕보(Deok-bo Lee) 대한기계학회 2005 대한기계학회 춘추학술대회 Vol.2005 No.11
The data of failed product in marketplace is very important one which understands the use environment of customer. To improve reliability of the product, the failure analysis of the product should be performed. In this study, we investigate the failure mode of helix ice dispenser in side by side refrigerator. To perform failure reproduce examination of helix ice dispenser, accelerative life test(ALT) was adopted. The result of ALT was identical with failure of the helix in marketplace. The cause of failure in helix ice dispenser was cracked and fractured by helix upper made of polycarbonate. The design of helix upper and blade dispenser was modified. The helix dispenser with new design could guarantee 14.8 years of B1 life under worst conditions.
신경석(Kyung Seok Shin),양형근(Hyoung Keun Yang),유동수(Dong Su Ryu),박성용(Seong Yong Park) 한국소비자학회 2001 소비자학연구 Vol.12 No.4
제품디자인이 제품경쟁력의 필수요소로서 인식되고 있다. 따라서, 제품디자인을 정량적으로 평가할 수 있는 방법을 제시하고, 이를 세부적으로 보완할 수 있는 디자인 방법론을 알아보고 적용시켜보는 것은 아주 중요한 문제이다. 기존의 제품디자인에 대한 연구는 브랜드 가치같은 사회적인 측면이 고려되어 기업에서 직접적으로 필요한 순수한 의미의 제품외관디자인에 관하여 고려했다고 할 수 없다. 본 연구에서는 디자인 가치를 구성하는 세가지 범주인 이미지, 형태미, 사용편리성을 구체적으로 측정하여 디자인 지수를 구하고, 이를 완전평면TV의 경우에 적용시켜, 실무에서도 사용할 수 있는 방법을 제시한다. 이렇게 거시적(macro)으로, 또한 세부적(micro)으로 디자인 지수 및 관련 속성들을 정량화 함으로써 기업 내 디자인 설계에 커다란 도움이 될 수 있다.
양석준,김진우,신승우,이희진,신승훈,유동수,장석원 한국비파괴검사학회 2001 한국비파괴검사학회지 Vol.21 No.6
본 논문은 고압 커패시터의 고장분석과 신뢰성 예측 결과를 다루고 있다. 부품의 수명과 고장률을 예측하기 위해서 두 가지 방법으로 고장 모드와 고장 메커니즘을 연구하였다. 에폭시 수지로 성형된 고압 커패시터가 절연내압 시험 하에서 저항이 제로로 되는 고장에 대하여, 근본원인 고장분석 체계를 효과적으로 수립함으로써 고장 메커니즘의 원인을 분석하였다. 특히 세라믹-에폭시 계면에서의 절연파괴 고장 현상이 강조되었으며, 본 연구에서 얻어진 결과의 타당성은 마그네트론에 장착된 고압 커패시터의 열사이클 시험 수행에 의한 가속시험 결과로부터 입증되었다. 시험 결과들은 결함이 있는 로트를 신속히 규명하고 B10수명을 결정하는데 유용하게 사용할 수 있다. 또한, 유전체의 절연파괴에 대해서 부하-강도 간섭모델을 이용하여 고장률을 예측하였다. This paper presents a result of failure analysis and reliability evaluation for high voltage ceramic capacitors. The failure modes and failure mechanisms were studied in two ways in order to estimate component life and failure rate. The causes of failure mechanisms for zero resistance phenomena under withstanding voltage test in high voltage ceramic capacitors molded by epoxy resin were studied y establishing an effective root cause failure analysis. Particular emphasis was placed on breakdown phenomena at the ceramic-epoxy interface. The validity of the results in this study was confirmed by the results of accelerated testing. Thermal cycling test for high voltage ceramic capacitor mounted on a magnetron were implemented. Delamination between ceramic and epoxy, which might cause electrical short in underlying circuitry, can occur during curing or thermal cycle. The results can be conveniently used to quickly identify defective lots, determine B10 life estimation each lot at the level of inspection, and detect major changes in the vendors processes. Also, thd condition for dielectric breakdown was investigated for the estimation of failure rate with load-strength interference model.