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이재광(Lee Jae Kwang),김덕은(Kim Duk-eun),류옥현(Ryou Ok-hyoun),노성호(Noh Soeng Ho),이상렬(Lee Sang Ryeol) 한국전자상거래학회 2005 전자상거래학회지 Vol.6 No.3
본 논문은 물류센터 관리 프로세스에서 발생하는 오류와 바코드시스템의 문제점을 분석하고 이 문제점을 RFID를 활용하여 개선한 프로세스를 제시하였다. 새로운 관리 프로세스에 기반하여 RFID 시스템과 물류센터 관리 시스템을 연계하여 처리의 신속성과 물류작업의 정확성을 높이데 기여하고자 하였다.<BR> 또한, RFID 어플리케이션 개발 방법론을 적용하여 체계적으로 문제를 해결하고 개선 방안을 제시하고자 하였다. 모든 기업들이 고민하고 있는 물류비 절감을 해결하기 위해서 보다 능동적으로 RFID 시스템을 도입하여 물류센터의 입출고 관리업무를 자동화하고 문제점을 개선하고자 물류센터 관리 프로세스를 제안하여 물류센터 관리를 효율적으로 연구하고자 하였다. Radio frequency identification (RFID) is an emerging technology that has been increasingly used in logistics and supply chain management (SCM) in recent years. RFID is an emerging technology to support logistics and supply chains.<BR> Research objective is to propose an RFID applications for warehouse management. RFID technology is applied to solve the problems in warehouse management. As RFID technologies get flourished, the proposed approach is expected to play a meaningful role as an effective tool for developing new RFID applications. We will see from this study that the innovative use of RFID technology can help a container tracking gain competitive advantages through achieving better service quality, greater visibility of data, and higher speed over competitors.
PLD법에 의해 제조된 ZnO박막의 두께 변화에 따른 특성 연구
윤욱희,명재민,이동희,배상혁,윤일구,이상렬,Yun, Uk-Hui,Myeong, Jae-Min,Lee, Dong-Hui,Bae, Sang-Hyeok,Yun, Il-Gu,Lee, Sang-Ryeol 한국재료학회 2001 한국재료학회지 Vol.11 No.4
펄스레이저 증착법 (PLD)으로 (0001)면 사파이어 기판 위에 성장시킨 ZnO 박막의 두게 변화가 표면형상, 결정성 및 전기/광학적 특성에 미치는 효과에 대하여 조사하였다. SEM 및 XRD 분석을 통해 약 4000 의 두께에서 3차원 island들이 생성되며, 박막의 두께가 증가함에 따라 결정립의 크기가 증가하고, 결정성이 향상되었음을 알 수 있었다 상온에서의 PL 측정을 통해 두께가 증가함에 따라 ultraviolet(UV) 및 deep level emission peak의 강도가 급격히 증가함을 알 수 있었다. Hall측정 결과, 모든 박막들이 H형 전도도를 보였고, 운반자농도가 $10^{19}$ $cm^{-3}$ 이상이었으며, 두께가 증가할수록 운반자농도가 감소하여 약 4000 에서 포화되는 경향을 보였다. 따라서, 사파이어 기판 위에 증착시킨 ZnO 박막은 약 4000 의 두께에서 bulk ZnO의 특성을 나타내었다. In order to investigate the effect of thickness on the properties of ZnO thin films, a series of films having different thickness were deposited on (0001) sapphire by using pulsed laser deposition(PLD). SEM and XRD analyses showed that, as the film thickness increases, the grain size increased and the crystallinity improved. Room-temperature PL spectra also exhibited that the intensities of both ultraviolet and deep level emission Peaks increased as the film thickness increased. Hall measurements at room- temperature revealed that, as the film thickness changes from 400 to 4000 , the carrier concentration of the film showed sharp decrease, which that of thicker film gradually saturated. Therefore, it is concluded that the strain due to the lattice mismatch between substrate and film is fully relaxed around the thickness of 4000 .