http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
화상 처리를 이용한 저에너지 전자회절시스템(LEED) 개발
김재훈(J. H. Kim),김동준(D. J. Kim),이승민(S. M. Lee),김재성(J. S. Kim),변태현(D. H. Byun),민항기(H. G. Min) 한국진공학회(ASCT) 1993 Applied Science and Convergence Technology Vol.2 No.4
CCD Camera와 frame grabber로 얻은 digital LEED pattern 화상으로부터 spot intensity 및 intensity profile을 구하는 software를 개발하였다. 특히 기존의 방법보다 좀 더 합리적으로 background intensity를 제거하는 algorythm을 적용하였다. 본 software를 이용하여 Cu(001) surface LEED spot의 I/V characteristic을 얻었고, Davis and Noonan의 data와 비교하여 일치하는 결과를 확인하였다. 또한 본 system을 이용하여 매우 쉽고, 편리하게 RHEED spot intensity oscillation을 측정할 수 있었다. Image processing software is developed to get spot intensity from the frame of a LEED pattern obtained by using a CCD Camera and a frame grabber. Improved algorythm for more reasonable background substraction is implemented in this software. I/V Characteristics of some spots from Cu(001) surface are collected. These results are compared with those of Davis and Noonan and found to be consistent with the latter results. This software is also applied to measure RHEED spot intensity oscillation, and gives clear oscillations very easily.