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ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

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      저자 : 채규훈(Cya-GYU Hoon) (검색결과 1 건)
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      • 마이크로 콘트롤러를 이용한 저가격대 트랜지스터 테스터 설계에 관한 연구

        채규훈(Cya-GYU Hoon) 군산대학교 수산과학연구소 2004 군산대학교 수산과학연구소 연구논문집 Vol.4 No.-

        Test process is essential to decide good or bad quality of produced transistor. However the bad products can remain after the test process, due to mixture of unwanted transistors in the process of house holding or management. Thus, we have to remove the bad ones by adding another test process before tapping or packing the products. This post-process is generally accepted in industry, since the product management, specially semi-conductor product is evaluated in PPM unit. The cost of production however should not increase with another test process. We have to get a test equipment that test the necessified characteristics in short time with low cost. To fulfill these demands a cheap and simple system is need ever though some equipments have been developed and operated. In this research, we check only 2 parameters, hFE and VCEO among the parameters of transistor to avoid the mixture of bad products and design a low cost test equipment. Since the equipment check only 2 parameters, it is fast and cheap. In addition, it is designed with low power consumption and small size for easy installation.

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