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송운식(Un Sig Song),김상식(Sang Sig Kim),장병태(Byung-Tae Jang),정길조(Kil Cho Jung),양효식(Hyo Sik Yang),김용원(Yong-Won Kim),장혁수(Hyuk Soo Jang) 대한전기학회 2006 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2006 No.7
IEC 61850은 변전소자동화시스템에 대한 국제 표준이다. IEC 61850 파트 7에서는 상호운용성을 위하여 lED (Intelligent Electronic Device)에 구현해야 할 정보모델과 서비스 모델을 추상적으로 정의하였다. IEC 61850 파트 8에서 정의된 SCSM (Specific communication service mapping)은 추상적인 객체와 서비스를 MMS (Manufacturing Message Specification, ISO 9506) 와 ISO/IEC 8802-3으로 매핑하는 것을 정의한다. 이 논문은 SCSM을 이용하여 어떻게 IEC 61850 기반의 IED를 구현해야 하는지 설명한다.
송운식(Un-Sig Song),양효식(Hyo-Sik Yang),김상식(Sang-Sig Kim),박민우(Min-Woo Park),장병태(Byung-Tae Jang),이남호(Nam-Ho Lee),장혁수(Hyuk-Soo Jang) 대한전기학회 2007 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2007 No.11
PICOM (Piece of Information for COMmunication)은 논리 노드 간에 교환되는 정보를 기술하기 위하여 정의되어 있다. 변전소의 기능은 여러 논리노드로 분할되어 서로 상호작용하며 동작한다. 변전소 자동화 시스템 검사는 단일 IED만의 기능 시험이 아니며 IED들간에 메시지를 교환을 통하여 변전소 기능을 정의된 성능을 만족하며 수행하는지 검사하는 것이다.
IEC 61850기반의 변전소 자동화 시스템을 위한 적합성 검사
김용원(Yong Won Kim),송운식(Un Sik Song),김상식(Sang Sik Kim),장혁수(Hyuk Soo Jang),장병태(Byung Tae Jang),정길조(Kil Cho Jung),양효식(Hyo Sik Yang) 대한전기학회 2006 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2006 No.7
IEC 61850 기반의 변전소 자동화 시스템 구축을 위하여 현재 여러 제조업체에서 IED 개발이 이루어지고 있다. IEC 61850-10에서는 개발된 IED가 IEC 61850 국제표준을 만족하는지 검증하고자 하는 적합성 검사 (Conformance Testing)에 대하여 기술한다. 본 논문은 IEC 61850-10에서 제시하는 적합성 검사에 대하여 기술하며, 이를 보완하기 위한 UCA IUG(International Users Group)의 역할에 대하여 언급한다.
IEC 61850 적합성 검사를 위한 품질 보증 프로그램
김상식(Sang Sig Kim),장혁수(Hyuk Soo Jang),김용원(Yong Won Kim),송운식(Un Sig Song),정길조(Kil Cho Jung),장병태(Byung Tae Jang),양효식(Hyo Sik Yang) 대한전기학회 2006 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2006 No.7
IEC61850은 변전소 자동화 시스템에 관한 국제 표준이다. IEC61850-10에서는 시스템을 구성하고 있는 각 기기들이 IEC61850 국제표준을 준수하고 기기들간의 상호운영성을 입증하기 위해 적합성 검사를 정의한다. 하지만 IEC61850-10에서 기술된 내용은 무엇을 검사할 것인지에 대해 추상적 방식으로 서술하고 있고 어떻게 검사하는지에 대해 구체적 방법의 제시는 부족하다. 이에 대해 UCA IUG(International Users Group)는 품질 보증 프로그램(QAP)을 운영한다. QAP는 IEC61850에 따른 검사절차에 대해 명시할 뿐만 아니라 그룹에 참여한 모든 사람들에게 이득을 가져다준다. 본 논문에서는 이러한 QAP에 대해 소개한다.