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김원기,김명균,강성호,한건희,Kim, Won-Gi,Kim, Myung-Gyun,Kang, Sung-Ho,Han, Gun-Hee 한국정보처리학회 2000 정보처리논문지 Vol.7 No.10
반도체 집적 회로가 점점 복잡해지고 고속화되면서 반도체 집적 회로의 동작에 대한 검사 뿐 아니라, 회로가 원하는 시간 내에 동작함을 보장하는 지연 고장 검사의 중요성이 점점 커지고 있다. 본 논문에서는 경로 지연 고장에 대한 효율적인 테스트 입력 생성을 위하여 새로운 부분 확장 주사 방법을 제안한다. 본 논문에서는 유추와 할당을 적용한 테스트 입력 자동 생성기를 기반으로 하여 새로운 부분 주사 방법을 구현하였다. 우선적으로 표준 주사환경에서 테스트 입력을 생성한 후에 테스트 입력이 제대로 생성되지 않은 주사 사슬에 대하여 테스트 입력 생성기를 수행하는 동안의 정보를 이용하여 확장 주사 플립플롭이 적용될 플립플롭을 결정하였다. 확장 주사 플립플롭을 결정하는 기준으로서는 고장 검출율과 하드웨어 오버헤드를 사용하였다. 순차 회로인 ISCAS 89 벤치 마크 회로를 이용하여 실험을 수행하였으며, 실험을 통하여 표준 주사와 확장 주사 환경, 부분 확장 주사 환경에서 고장 검출율을 비교, 확인하였다. 그리고 새로운 알고리즘이 적용된 부분 확장 주사 방법에서 높은 고장 검출율을 확인함으로써 효율성을 입증하였다. The more complex and larger semiconductor integraed circuits become, the core important delay test becomes which guarantees that semiconductor integrated circuits operate in time. In this paper, we propose a new partial enhanced scan method that can generate test patterns for path delay faults offectively. We implemented a new partial enhanced scan method based on an automatic test pattern generator(ATPG) which uses implication and justification . First. we generate test patterns in the standard scan environment. And if test patterns are not generated regularly in the scan chain, we determine flip-flops which applied enhanced scan flip-flops using the information derived for running an automatic test pattern generator inthe circuti. Determming enhanced scan flip-flops are based on a fault coverage or a hardware overhead. through the expenment for JSCAS 89 benchmark sequential circuits, we compared the fault coverage in the standard scan enviroment and enhance scan environment, partial enhanced scan environment. And we proved the effectiveness of the new partial enhanced scan method by identifying a high fault coverage.
김원기,Kim, Won-Gi 한국기술사회 2011 技術士 Vol.44 No.3
According to Natural disasters due to extreme weather, In particular earthquake, It has become important to avoid by aseismic design. Do not entrust with it to non-specialists. By all means, It has to be Structural Professional Engineers. Therefore, foresee and Prevent problems in the near future.
김원기,김남현,허재만,Kim, Won-Gi,Kim, Nam-Hyeon,Huh, Jae-Man 대한의용생체공학회 1990 의공학회지 Vol.11 No.2
A workstation for archiving and communication of medical records is developed for clinical use in hospital. In this system, handwritten diagnostic reports, medical recording papers such as ECG and EEG etc., and ultrasound images are stored in optical disks instead of papers. This system improves medical service owing to speedy diagnosis by fast finding the patient's medical chart, and curtails the cost of archiving medical charts economically. If this system can be combined with already developed MPACS, then integrated medical image di- agnosis will be possible.
김원기 ( Won Gi Kim ),김명균 ( Myung Gyun Kim ),강성호 ( Sungho Kang ),한건희 ( Gunhee Han ) 한국정보처리학회 2000 정보처리학회논문지 Vol.7 No.10
delay test becomes which guarantees that semiconductor integrated circuits operate in time. In this paper, we propose a new partial enhanced scan method that can generate test patterns for path delay faults effectively. We implemented a new partial enhanced scan method based on an automatic test pattern generator(ATPG) which uses implication and justification. First, we generate test patterns in the standard scan environment. And if test patterns are not generated regularly in the scan chain, we determine flip-flops which applied enhanced scan flip-flops using the information derived for running an automatic test pattern generator in the circuit. Determining enhanced scan flip-flops are based on a fault coverage or a hardware overhead. Through the experiment for ISCAS 89 benchmark sequential circuits, we compared the fault coverage in the standard scan environment and enhance scan environment, partial enhanced scan environment. And we proved the effectiveness of the new partial enhanced scan method by identifying a high fault coverage.
미국 특허법의 역외적용과 국내 제조업: - 미 연방 대법원의 판례를 중심으로 -
김원기(Won Gi Kim) 미래학회 2018 미래학회 학술대회 자료집 Vol.2018 No.2
특허법이나 저작권법과 같은 지식재산관련 법은 흔히 속지주의로 표현되는 특정 국가 내에서만 효력을 갖는다고 한다. 그러나 현대의 비즈니스는 국경과 산업이 혼재하는 그래이 마켓과 같은 형태를 띠고 있으며, 제조업만 보더라도 설계, 제조, 판매 등의 형태가 한 국가 내에서만 이루어 지지 않는 것이 현실이다. 이렇듯 현대산업의 비용과 효율성의 극대화 현상에 따라 지식재산권의 직접침해는 물론 간접침해의 경우가 점점 늘어나는 추세라 할 수 있다. 그리고 2017년과 2018년 미국에서는 미국 특허법의 역외적용과 관련이 있는 제 271조 f항과 관련된 미연방 대법원의 판결이 있었다. 미국과 많은 비즈니스를 하는 우리나라의 상황에서 미국 특허법의 간접침해와 역외적용에 대한 조항들을 살펴보고 그 사례와 최근의 동향을 살펴보는 것이 필요하다 하겠다. 또한 국내의 제조사 들이 라이센스 또는 여러 형태로 미국의 기업들과 협력을 할 시 주목하여야 할 부분과 계약을 할 때 주의하여야 할 점, 나아가 소송이 발생하였을 시의 전략 등도 고려할 필요가 있다고 할 것이다.