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      • KCI등재

        「太政官指令」 付図 「磯竹島略図」発見の経緯とその意義」

        漆崎英之 영남대학교 독도연구소 2013 독도연구 Vol.- No.14

        1. ?태정관지령? 부속 지도 ?기죽도약도? 발견 경위 2005년 3월 대신대학에서 일본의 한반도 침략 죄에 대한 설교를 계기로 나는 독도 문제와 관련을 가지게 되었습니다. 어느 날 “죽도 외 1도 건에 대해서는 일본과 관계가 없다는 것을 명심할 것”이라고 하는 태정관(太政官) 지령이 원본에서는 붉은 글씨로 되어 있는 한 문장을 만났습니다. 붉은 글씨를 자신의 눈으로 확인하고 그 의미를 알고 싶다는 생각에서 원본의 개시 신청을 하고 동년 5월 이 사실을 확인할 수 있었습니다. 원본에는 ?기죽도약도(磯竹島略圖)?(울릉도 약도)로 쓰인 작은 봉투 안에 접혀진 한 장의 부도(付圖)가 담겨져 있었습니다. 그것이 ?기죽도약도?였습니다. 펼쳐 보고 더욱 놀랐습니다. 부도 오른쪽 상단에도 ?기죽도약도?라고 기록되고 있었음에도 불구하고, 기죽도(울릉도)와 함께 송도(독도)가 그려져 있던 것입니다. 2006년 5월 고신대학 강연에서 제시한 공문록 및 ?기죽도약도?에 대해 6월 7일 부산 MBC 문화방송이 처음으로 텔레비전 방송에서 공개하였습니다. 독도연구자인 박병섭 선생도 “지금까지 본 적이 없는 사료이다”라고 말씀하시고 즉시 인터넷상에 공개하였습니다. ?기죽도약도?의 가치를 올바르게 이해하고 인터넷상과 서적(『다케시마=독도논쟁』?內藤正中?박병섭, 2007년, 新幹社)에 공개한 것은 박병섭 선생님이 처음이었습니다. 2. ?태정관지령? 부속지도 ?기죽도약도?의 의의 ?기죽도약도?가 발견되기 전부터 공문록 사료를 진지하게 마주 한 연구자들은 ‘외 1도’ 가 송도(독도)라고 하는 바른 결론을 당연히 내리고 있었습니다. ?기죽도약도?는 이러한 연구자들의 연구의 결과가 옳았다는 것을 증명해 주었습니다. 박병섭 선생님이 “?공문록?에 쓰여진 외 1도인 송도(松島)가 독도인 것은 ?공문록? 부속 ?기죽도약도?를 보면 일목연하다”(?시모죠 마사오의 논설을 분석한다?, 90쪽, ?독도연구? 제4호, 2008년, 영남대학독도연구소)고 적고 있는 대로입니다. 태정관지령을 문서사료와 함께 확인한 ?기죽도약도?에 의해서 ‘외 1도’가 어느 섬을 가리키고 있는지 판단할 수 없다고 하는 견해는 거부되었습니다. 게다가 ‘외 1도’를 공문록 그 자체로 부터 해석하는 것을 의도적으로 피해 공문록밖에서 독도 이외의 섬이라고 결론지으려고 하는 잘못된 시도와 결론도 무력화시켜버리고 말았던 것입니다. 3. 독도문제 해결의 길 독도연구의 제1인자로 거론되는 고 나이토 세이쥬(內藤正中) 선생님은 일본 외무성의 자세를 “과거의 역사와 정면에서 부터 바라보려고 하지 않고 역사의 일부를 편의주의에 따라 수박 겉핥기를 하고, 그 한편으로 자신의 주장과 맞지 않는 사실은 무시하고 고려하지 않는다”(?죽도=독도문제입문? 64쪽)고 비판하고 있었습니다. 즉, 국가가 역사로 부터 진심으로 배우고 마주보고 역사적 사실을 존중해 간다면, 독도 문제도 해결의 길을 찾아낼 수 있는 가능성이 있다고 하는 것입니다. 자국의 역사에서 진심으로 배운다는 것은 국가 스스로가 그 시대의 역사에 새겨진 발자취로서 역사적 사료에 관심을 가지고 이것을 존중하는 것입니다. 국가가 과거의 잘못을 진지하게 응시하고 회개하는 것에 의해서 미래는 올바르게 열어 갑니다. ?기죽도약도? 등이 중요한 사료는 이것을 보는 사람이 과거의 역사적 사실에 진실로 마주 보는지 어떤지를 비추는 거울입니다. “죽도(울릉도) 외 1도(독도)는 일본의 영토가 아닌 것을 알아야 한다”고 하는 태정관지령은 확실히 오늘 일본에게 회개를 강요하는 지령인 것입니다.

      • 컴퓨터 모델을 활용한 반도체 FAB 생산성 제고 방안

        칠기,조대호 成均館大學校 科學技術硏究所 1997 論文集 Vol.48 No.1

        The importance of the semiconductor industry in Korea has been growing, but the manufacturers are experiencing two major problems: poor optimization of production and low localization ratio of production equipment. Due to the complex manufacturing processes and special features such as product binning and substitution possibilities, several attempt to apply MRP or spreadsheet have been failed to meet the expectations. This paper suggests the computer modeling technique as the solutions to analyze the problem, to formalize the semiconductor manufacturing process, and to build an advanced manufacturing environments. The preconditions of winning in the competitive race such as data consistency and the education of core technologies are also described.

      • 발전소 운전원 훈련용 모의제어반 국산화 실현 방안

        칠기 成均館大學校 科學技術硏究所 1997 論文集 Vol.48 No.1

        A unique power utility company in Korea, Korean Electric Power Corporation(KEPCO) which has been operating four full scope simulators since 1979, has been experienced several major difficulties such as late and/or poor response from the simulator manufacturers. Not only to overcome those kind of exposed difficulties but also to level up the technologies related to real-time simulators, a ambitious project was launched to localize all necessary technologies and equipments in 1994. Since then KEPCO teamed with a domestic company as a prime contractor and a foreign company has a technology donor has been done important tasks such as plant analysis and simulator design. However in the process of implementation, the real-time I/O controllers were key barriers for full localization of simulators. Based on the requirements of real-time I/O controllers and analysis of the local technologies and off-the-self products, this paper checks the feasibility of full localization and suggests the adequate approach to full localization.

      • KCI등재

        영상 모델에 의한 표준쐐기 매질내의 음장 계산

        칠기,장지원 한국음향학회 1993 韓國音響學會誌 Vol.12 No.6

        1986년 미국 음향학회 수중음향학술분과 특별회기중에 제안된 표준쐐기형 매질내의 음장을 계산하기 위하여 영상모델이 사용되었다. 음장의 계산 결과는 왕복결합모드무델과 음선모델에 의한 계산 결과들과 비교되었다. 영상모델은 그 특성에 의한 제한점을 갖고 있으나, 표준 쐐기형 매질의 음장 계산에 사용될 수 있고, 기존의 수치모델과는 달리 개인용 컴퓨터로써 쐐기형 매질의 음장 계산이 가능하기 때문에 음파 전파 현상분석 등의 연구에 유용하게 사용될 수 있다.

      • 淺海에서 潛水艦의 運用

        칠기,칠기 해군대학 1990 海洋戰略 Vol.- No.68

        이 글은 서독 해군 잠수함 전단의 작전장교인 H. Boehm 이 최초 <Naval Forces>, No. IV(1986)에 게재한 것을 <The Submarine Revies>, July 에 재차 실렸던 글을 번역한 것임 I. 서언 II. 천해(Shallow Waters) III. 천해조건의 효과들 IV. 작전원칙 V. 결론

      • KCI등재

        반도체 확산공정에서의 컨베이어 적정속도와 길이를 구하는 시뮬레이션

        박일석,칠기 한국시뮬레이션학회 2002 한국시뮬레이션학회 논문지 Vol.11 No.3

        Semiconductor wafer fabrication is a business of high capital investment and fast changing nature. To be competitive, the production in a fab needs to be effectively planned and scheduled starting from the ramping up phase, so that the business goals such as on-time delivery, high output volume and effective use of capital intensive equipment can be achieved. Project executed that use conveyor in bay semiconductor A line. But conveyor capability is lacking and rundown happened in equipment. Do design without normal simulation and conveyor system failed. The comparison is peformed through simulation using .AutoMod a window 98 based discrete system simulation software, as a tool for comparing performance of proposed layouts. In this research estimate optimum conveyor capability, there is the purpose.

      • KCI등재후보

        수율향상을 위한 반도체 EDS공정에서의 불량유형 자동분류

        한영신,칠기,Han Young Shin,Lee Chil Gee 한국시뮬레이션학회 2005 한국시뮬레이션학회 논문지 Vol.14 No.1

        In the semiconductor manufacturing, yield enhancement is an urgent issue. It is ideal to prevent all the failures. However, when a failure occurs, it is important to quickly specify the cause stage and take countermeasure. Reviewing wafer level and composite lot level yield patterns has always been an effective way of identifying yield inhibitors and driving process improvement. This process is very time consuming and as such generally occurs only when the overall yield of a device has dropped significantly enough to warrant investigation. The automatic method of failure pattern extraction from fail bit map provides reduced time to analysis and facilitates yield enhancement. The automatic method of failure pattern extraction from fail bit map provides reduced time to analysis and facilitates yield enhancement. This paper describes the techniques to automatically classifies a failure pattern using a fail bit map.

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