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Mouli, C. Piscataway, N.J.:; IEEE, 2005 IEEE SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CON Vol.- No.-
Semiconductor Manufacturing: Future Process Challenges (abstract)
Bakeman, P. E. IEEE 1994 IEEE SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CON Vol.5 No.-
Future Directions in Controlling Particle Contamination in Semiconductor Integrated Circuit Manufacturing: An Industry Survey
Rappa, M. A. IEEE 1994 IEEE SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CON Vol.5 No.-
Design for Manufacturability: A Key to Semiconductor Manufacturing Excellence
Wilcox, R., Forhan, T., Starkey, G., Turner, D. SEMI 1998 IEEE SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CON Vol.9 No.-
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Doong, K. Y.-Y. IEEE 1999 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON SEMICONDUCTOR MANU Vol.10 No.-
Affordability Concerns in Advanced Semiconductor Manufacturing: The Nature of Industrial Linkage
Hicks, D. A.,Brown, S. IEEE 1995 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON SEMICONDUCTOR MANUFACTU Vol.9 No.-
5.6a "Effects of Wafer Bow and Warpage on Performance of Electrostatic Chucks in High Volume Manufacturing"
Kurkowski, P., Drizlikh, S., Sawer, R., Angis, H. Piscataway, N.J.:; IEEE, 2005 IEEE SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CON Vol.- No.-
2.5a "Edge and Bevel Automated Defect Inspection for 300mm Production Wafers in Manufacturing"
Morillo, J., Houghton, T., Bauer, J. M., Smith, R. Piscataway, N.J.:; IEEE, 2005 IEEE SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CON Vol.- No.-
Improving Throughput in 0.25 � Technology Development and Manufacturing-CVD TiN Liner Barrier Applications
Brennan, B. IEEE 1999 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON SEMICONDUCTOR MANU Vol.10 No.-
Preparing the Workforce for Semiconductor/VLSI Industry for the 21^s^t Century at UMASS Lowell
Prasad, K. SEMI 2000 IEEE SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CON Vol.- No.-
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