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Jorez, S., Cornet, A., Raskin, J. P. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Optical Communications Vol.263 No.1
Strain Imaging in Thermoelectric Devices by Laser Probe Shearography
Jorez, S.,Dilhaire, S.,o-Lopez, L. P.,Grauby, S.,C IEEE 2001 INTERNATIONAL CONFERENCE ON THERMOELECTRICS Vol.20 No.-
Imagerie de deformation par shearographie - Application a l'electronique de puissance
Jorez, S., Dilhaire, S., Lopez, L. D. P., Claeys, REVUE GENERALE DE L'ELECTRICITE 2002 REVUE DE L ELECTRICITE ET DE L ELECTRONIQUE Vol.- No.6
Low-cost optical instrumentation for thermal characterization of MEMS
Jorez, S., Laconte, J., Cornet, A., Raskin, J.-P. IOP PUBLISHING LTD 2005 Measurement science & technology Vol.16 No.9
Optical method for the measurement of the thermomechanical behaviour of electronic devices
Dilhaire, S.,Jorez, S.,Cornet, A.,Schaub, E. Pergamon 1999 Microelectronics and reliability Vol.39 No.6-7
Measurement of thermally induced vibrations of microelectronic devices by use of a heterodyne electronic speckle pattern interferometry imaging technique
Grauby, S., Dilhaire, S., Jorez, S., Lopez, L. D. OSA OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 2003 Applied Optics Vol.42 No.10
Thin films stress extraction using micromachined structures and wafer curvature measurements
Laconte, J., Iker, F., Jorez, S., Andr??, N., Proo Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.76 No.1-4
Surface displacement imaging by interferometry with a light emitting diode
Dilhaire, S., Grauby, S., Jorez, S., Lopez, L. D. OSA OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 2002 Applied Optics Vol.41 No.24
Imaging setup for temperature, topography, and surface displacement measurements of microelectronic devices
Grauby, S., Dilhaire, S., Jorez, S., Claeys, W. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2003 Review of scientific instruments Vol.74 No.1/2
optical instrumentation for the thermal characterization of electronic devices
Claeys, W., Dilhaire, S., Jorez, S., Grauby, S. FLOMERICS LIMITED 2002 ELECTRONICS COOLING Vol.8 No.3
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