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Inspection system for MEMS characterization on wafer level using ESPI [4400-06]
Aswendt, P., Schmidt, C.-D., Zielke, D., Schubert, International Society for Optical Engineering; 1999 2001 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.- No.4400
Whole-Brain Microscopy Meets In Vivo Neuroimaging: Techniques, Benefits, and Limitations
Aswendt, M., Schwarz, M., Abdelmoula, W. M., Dijks Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 MOLECULAR IMAGING AND BIOLOGY Vol.19 No.1
Industrial inspection of specular surfaces using a new calibration procedure [5856-30]
Aswendt, P., Hofling, R., Gartner, S. International Society for Optical Engineering; 1999 2005 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5856 No.1
Analysis of static and dynamic operational behavior of active micromembranes [5458-04]
Aswendt, P., Dean, T. International Society for Optical Engineering; 1999 2004 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5458 No.-
Analysis of Active Micromembranes with Nanometer Resolution
Aswendt, R., Dean, T. Dusseldorf; VDI Verlag 2004 VDI Berichte Vol.1844 No.-
Speckle Pattern Interferometry for Measuring Strain Fields at 1500 �
Aswendt, P., Hoefling, R. Office for Official Publications of the European Communities 1997 EURATOM -PUBLICATIONS- EUR Vol.6 No.-
Steps toward the use of DPSI for high-temperature strain measurement [2782-17]
Aswendt, P., Hoefling, R. SPIE 1996 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.- No.2782
New calibration procedure for measuring shape on specular surfaces
Aswendt, P., Gartner, S., Hofling, R. Berlin:; Springer-Verlag, 2005 FRINGE -INTERNATIONAL WORKSHOP- Vol.5 No.-
VISIBLE AND DEEP UV SPECKLE INTERFEROMETRY FOR MEMS TESTING
Aswendt, P., Dean, T. Milan, Italy:; McGraw-Hill, 2004 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON EXP Vol.12 No.-
Interferometrische Struktur- und Beanspruchungsanalyse an Mikrokomponenten
Aswendt, P.,Schmidt, C.-D.,Zielke, D.,Schubert, S. VDI 2001 VDI Berichte Vol.1599 No.-
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