비정질 인듐 갈륨 아연 산화물(a-IGZO) 박막 트랜지스터(TFT)는 우수한 전 기적 특성과 저온 공정 적합성으로 인해 유연 및 신축성 전자 소자 분야에서 널리 활용되고 있다. 최근 디스플레이 기...

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성남: 가천대학교 일반대학원, 2026
학위논문(석사) -- 가천대학교 일반대학원 , 반도체공학과 반도체공학 전공 , 2026. 8
2026
한국어
비정질 인듐 갈륨 아연 산화물 ; 박막 트랜지스터 ; 제논 플래시 램프 ; 어닐링 ; 디본딩 ; 인버터 ; 유연/투명 디스플레이
621.38152 판사항(23)
경기도
xi, 92 p.: 천연색삽화, 도표; 26 cm.
지도교수: 조의식
참고문헌 수록
I804:41005-200001006917
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비정질 인듐 갈륨 아연 산화물(a-IGZO) 박막 트랜지스터(TFT)는 우수한 전 기적 특성과 저온 공정 적합성으로 인해 유연 및 신축성 전자 소자 분야에서 널리 활용되고 있다. 최근 디스플레이 기술이 고집적화 및 유연화됨에 따라 패널 내 논리 회로 구현에 대한 수요가 증가하고 있으며, 이를 위해 산화물 TFT의 다기능성과 안정성 확보가 필수적이다. 본 연구에서는 기판에 열적 손상을 주지 않으면서 결함을 패시베이션할 수 있는 초고속 광열처리 기술인 제논 플래시 램프 어닐링(XFLA)을 적용하여 a-IGZO TFT의 전기적 특성을 개선하였다. XFLA 처리된 소자는 턴온 전압 (VON)의 양의 방향 이동, 아문턱 스윙(Subthreshold Swing) 감소, 오프 전류 감 소 등의 향상된 특성을 나타냈다. 이러한 특성 개선을 바탕으로, 초기(Pristine) a-IGZO TFT를 공핍 모드 (Depletion-mode) 부하로, XFLA 처리된 TFT를 향상 모드(Enhancement-mode) 구동기로 사용하는 NMOS 인버터를 구현함으로써 회로 수준에서의 활용 가능 성을 검증하였다. 더 나아가, 무색 폴리이미드(CPI) 기판 상에 제작된 고성능 a-IGZO TFT의 기판 박리와 초고속 어닐링을 동시에 달성할 수 있는 단일 단 계 제논 플래시 램프 디본딩(XFLD) 공정을 제안한다. 몰리브덴(Mo) 광흡수층(LAL)의 순간적인 광열 흡수는 유리 기판으로부터의 깨끗한 기판 박리를 유도하는 동시에, 소자 성능 향상을 위한 충분한 열적 활 성화 에너지를 제공한다. XFLD 공정 후 TFT는 드레인 전류 증가, 문턱 전압의 양의 방향 이동, 오프 전류 감소를 보여 효과적인 채널 활성화가 이루어졌음을 확인하였다. 이는 CPI 기판으로부터 확산된 수소가 a-IGZO 층 내의 산소 공공 관련 결함을 패 시베이션하여 캐리어 이동도와 동작 안정성을 향상시켰기 때문이다. 분광 분 석 결과, 화학적 손상 없이 고분자 게이트 절연막 내의 공공 상태 감소와 C-Cl 결합 강화를 확인하였으며, 최종 제작된 소자는 우수한 투명성을 유지하 는 동시에 1,000회의 굽힘 평가 후에도 안정적인 특성을 유지하였다. 결과적으로, 본 연구에서 제시하는 확장 가능한 제논 플래시 램프 기반 공 정 기술은 산화물 반도체의 문턱 전압 조절과 고집적 기판 박리 공정을 동시 에 해결할 수 있는 유망한 경로를 제공하며, 향후 차세대 유연/투명 디스플레 이 및 웨어러블 전자 회로 시스템 구현에 크게 기여할 것으로 기대된다.
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