본 연구는 산업용 비전 검사 환경에서 조도(Lux) 변화와 금속 부품의 고반사 특성이 경계 검출 성능 에 미치는 영향을 정량적으로 분석하고, 이를 바탕으로 강건한 검출이 가능한 최적의 영상...

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부산 : 국립부경대학교 대학원, 2026
학위논문(석사) -- 국립부경대학교 대학원 , 인공지능융합학과 인공지능융합전공 , 2026. 2
2026
한국어
부산
60 ; 26 cm
지도교수: 김종남
I804:21031-200000965803
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본 연구는 산업용 비전 검사 환경에서 조도(Lux) 변화와 금속 부품의 고반사 특성이 경계 검출 성능 에 미치는 영향을 정량적으로 분석하고, 이를 바탕으로 강건한 검출이 가능한 최적의 영상 획득 조건 을 규명하는 것을 목적으로 한다. 일반적으로 금속 부품은 고조도 환경에서 강한 스펙큘러 반사와 카 메라 렌즈의 색수차(Chromatic Aberration)가 발생하여 실제 외곽 경계가 소실되거나 왜곡된다. 그러나 기존의 임계값 제어 방식은 이러한 물리적·광학적 왜곡에 능동적으로 대응하는 데 한계가 있었다. 이에 본 연구는 확산광(디퓨저) 기반의 영상 획득 조건과 ROI 전처리, 고정 임계값(50, 200) Canny, 내부 마 스킹(Inner Mask)을 결합한 튜닝이 불필요한 비학습 파이프라인을 제안한다. 5종의 금속 부품(무광·유광 샤프트, 무광·유광 기어, H-Beam)을 대상으로 20단계의 조도 환경(79~2,342 Lux)에서 실험을 수행한 결 과, 조명 방식에 따른 검출 특성의 차이가 명확히 확인되었다. 직접광은 고조도에서도 H-Beam의 두께 정보가 보이지 않는 단순 실루엣 검출에 그쳤으나, 확산광은 79 Lux의 저조도 환경에서도 두께를 포함 한 전체 형상을 온전하게 검출하였다. 이를 통해 확산광은 H-Beam의 검출 오차를 0.0619 px로 획기적 으로 정밀화하였으며, 반사에 민감한 유광 기어의 검출 표준편차 또한 0.0037 수준으로 억제하여 조명 변화에 흔들리지 않는 안정성을 입증하였다. 본 연구를 통해 도출된 128~699 Lux의 공통된 최적 조도 구간(Optimal Illumination Range) 내에서, 제안 기법은 부품의 재질에 관계없이 별도의 파라미터 재조 정 없이 Chamfer Distance 0.05 px 내외의 정밀도와 Coverage 약 94% 수준의 높은 형상 복원율을 달 성하였다. 결론적으로 본 연구는 알고리즘의 복잡한 후처리 보정 없이, 촬영 단계의 확산광 적용과 정 량적 조도 제어만으로도 최적의 검사 성능을 보장할 수 있다는 실용적 가이드라인을 제시한다.
핵심어: 산업용 비전, 경계 검출, 조도(Lux), 디퓨저, Canny, 내부 하이라이트 억제, Chamfer Distance, Coverage, 최적 조도 구간
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